Kamera- und Laserbasiertes Messsystem

Ziel des Auftrags ist es, ein Kamera- und Laserbasiertes Messsystem zu beschaffen, das Seitenkanalanalysen und Fehlerangriffe auf Microcontroller ermöglicht. Konkret soll das System in der Lage sein, mittels Emissionsmikroskopie (EMMI) auf photonischer Basis, thermischer Laser-Simulation (TLS) sowie optischer Strahl-induzierter Strom (OBIC) für Leckstrom basierte Seitenkanalanalysen Messungen durchzuführen und laserinduzierte Fehlerangriffe (LFI) auszuführen.