CPV-Code / Auftragsgegenstand
38500000
Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Abgabefrist
Vergabeart / Vergabeordnung
EU-weit Offenes Verfahren
Mandant
Technische Universität München
Ort der Ausführung
Arcisstraße 21, 80333 München
Art und Umfang der Leistung
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.
CPV-Code / Auftragsgegenstand
38500000
Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Abgabefrist
01.01.2000
